Multifunktsionaalne digitaalne elektroonikakomponentide tester | ESR-meeter, mahtuvusmõõtur, sagedusgeneraator

Elektroonikakomponentide tester ESR, kondensaatori mõõtur, sagedusgeneraatori digitaalne

Multifunktsionaalne transistoritester NPN ja PNP transistorite, FET-ide, dioodide, topeltdioodide, tiristorite ja SCR-i automaatseks tuvastamiseks, sealhulgas transistorite pinouti automaatne identifitseerimine.

Sellesse on integreeritud sagedusgeneraator, voltmeeter ja IR-kodeerija, kõik ühes ATMEGA328P DIP-28 kiibis. Varustatud 160×128 pikslilise värvilise ekraaniga, kus kuvatakse graafilised sümbolid testitavatest komponentidest.

• Pöördlüliti ja ühe nupuga mõõtmine
• Automaatne väljalülitus energiasäästuks
• Toide 9V patareiga või välise adapteriga
• Töövool ~30mA, ooteseisund 20nA

Põhilised testimisfunktsioonid

• NPN, PNP, FET transistorite, dioodide, topeltdioodide ja tiristorite automaatne tuvastamine ning pinide identifitseerimine
• Emitteri ühise voolu võimendusteguri (HFE) mõõtmine
• Emitter-baasi lävepinge ja kollektor-emitteri lekkevoolu testimine
• Darlington-transistorite tuvastamine
• Transtistorites ja FET-ides sisseehitatud kaitsedioodide tuvastamine
• FET-i parameetrite ja lekke mõõtmine
• Kuni 2 takisti samaaegne mõõtmine, sealhulgas reguleeritavad takistid
• Maksimaalne takistuse mõõtmisresolutsioon: 0,01Ω, kuni 50MΩ
• Kondensaatorite mahtuvuse vahemik: 25pF – 100mF, resolutsioon 1pF
• ESR-mõõtmine (sarnasresistents) suurte kondensaatorite puhul (>90nF)
• Kondensaatorite pinge languse määramine üle 5000pF, et määrata Q-faktor
• Kuni 2 dioodi samaaegne mõõtmine, kuvades polaarsust ja juhtpingeid
• LED-ide ja Zener-dioodide graafiliste sümbolite tuvastamine ja kuvamine
• PN-ülekäigu tagasipoole mahtuvuse mõõtmine dioodides ja transistorites
• Induktiivsuse mõõtmine takistitel alla 2100Ω, vahemik 0,01mH – 20H

Tehnilised andmed

Märkus: Enne kondensaatorite testimist tühjendage need täielikult, et vältida testeri kiibi kahjustamist.